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日本yamabun新款適用于軟薄膜和薄膜的測厚儀TOF-C2
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號 |
|---|---|
| 測量方法 | 非接觸式/電容式 |
| 測量對象 | 薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜 |
| 測量原理 | 電容式 |
高測量分辨率
由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測量。
基重測量
操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）
| 測量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 測量長度 | 10 至 10000 毫米 |
| 測量間距 | 1 毫米 ~ |
| 最小顯示值 | 0.01微米 |
| 電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作溫度限制 | 5-40℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
